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| 恒溫恒濕試驗(yàn)箱貯存應(yīng)選擇合適的試驗(yàn)（上） |
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| 時間：2013/11/15 8:09:21 |
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由于不同參數(shù)產(chǎn)生不同的應(yīng)力，從而引起不同的破壞類型或失效模式，很顯示不可能給恒溫恒濕試驗(yàn)箱明確規(guī)定一種單一的貯存試驗(yàn)，GB/T2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》所述的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)，可以方便地用來模擬特定的貯存條件，通常，貯存試驗(yàn)是以下列試驗(yàn)為基礎(chǔ)：試驗(yàn)A：低溫、試驗(yàn)B：干熱以及試驗(yàn)Ca：恒定濕熱，試驗(yàn)持續(xù)時間一般較長，可能長達(dá)幾個月（試驗(yàn)Ca的長時間為2個月），對于某些情況（例如鹽霧、工業(yè)大氣）或其他試驗(yàn)可能更加重要，在制定詳細(xì)貯存規(guī)范時宜考慮這些試驗(yàn)。
眾所周知，恒溫恒濕試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)并非用來模擬實(shí)際條件，在某些情況下有必要做一些特殊試驗(yàn)，盡管如此，從技術(shù)及經(jīng)濟(jì)上考慮，建議只要有可能，就宜采用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)，在選擇合適的試驗(yàn)時，應(yīng)考慮：預(yù)期的劣化機(jī)理和失效模式，這些可以從經(jīng)驗(yàn)或?qū)Ξa(chǎn)品特性和貯存條件的分析中得知，并且和環(huán)境與材料之間的相互作用有關(guān)，涉及的主要環(huán)境應(yīng)力以及它們能否看作是單獨(dú)使用、綜合作用或依次作用，在失效模式無本質(zhì)性改變以及不引起新的失效模式的情況下，加速劣化進(jìn)程的可能性。 |
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